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LAP-DW2000干濕一體全自動激光粒度分析儀

產品名稱：LAP-DW2000干濕一體激光粒度分析儀

技術標準：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

測試范圍: 0.1um～2000um 0.01um～2000um

探測單元：127

激光類型:進口半導體激光器(可選氦氖激光)

首先感謝您對LAP-DW2000濕法全自動激光粒度分析儀的關注！

LAP-DW2000是我公司傾力研發的產品，自上市以來贏得了廣大客戶的*。LAP-DW2000采用*的Mie式散射原理和匯聚光傅立葉變換光路。高密度探頭及全量程無縫銜接測試方法，保證了測試結果的準確性和重復性。*的濕法循環分系統，保證顆粒保證測試過程中無顆粒沉積現象，測試排水后無廢液積存現象，保證了第二次測試精度，使測試結果更真實可靠；干法分散采取了直線噴射分散方法，樣品經過高壓氣體分散后垂直向后飛行，避免了待測顆粒二次團簇，同時采取了管道無殘留設計，保證了測試不同樣品的準確性。*的光路自動校對系統、干濕一鍵切換系統、干法電腦遠端控制喂料系統等精心設計彰顯出LAP-DW2000*優勢。

LAP-DW2000激光粒度分析儀主要性能特點：

*的光路設計：LAP-DW2000采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在zui短的焦距獲得zui大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的高密度探測單元，讓LAP-DW2000擁有了*的小顆粒測試能力，高密度探測單元使用LAP-DW2000具有*的全量程無縫測試能力。

單光路單鏡頭設計：全新設計的光路采用了后項鏡頭采集技術，實現了0.01度到170度無盲區探測，測量范圍為0.01微米到2000微米。

鋁合金光學平臺：高精度全鋁合金光學平臺，長期穩固可靠；光路系統全封閉，有效解決粉塵污染問題；儀器設計符合激光安全規范，具備激光束自動防護功能。

誤操作保護功能：全新設計的LAP-DW2000具備誤操作保護功能，儀器對操作者錯誤的指令具備無響應功能，避免了誤操作對儀器的損壞，同時大大提高儀器測試結果的穩定性。

大口徑鏡頭：大口徑傅里葉變換鏡頭，更有效實現光信號傅里葉變換，更準確、更有效。

超聲防干燒：DW2000實現了樣品池無水超聲自我保護功能，避免損壞超聲；同時超聲功率在0到50瓦范圍內可調節。

防塵、防震設計：儀器整體進行了密封設計，大幅提高了內部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結果測試更穩定可靠。

強防腐設計（選配）：根據耐客戶實際需求可以配備耐酸、耐堿、耐油（含一切溶劑油）、耐有機溶劑（像丙酮、苯酚、正己烷等一切有機溶劑）。

進口光纖半導體激光器：LAP-DW2000采用了高穩定、長壽命的進口大功率光纖輸出半導體激光器，優良的單色性及穩定性讓LAP-DW2000擁有了*的測試重復性；激光器具備自我檢查功率變化自行調節功能，保持激光器恒功率輸出。（波長635nm;功率大于5mw）。

自動對中：*采用機械中心與光學中心相結合技術，光路自動調整定位更，達到微米級別；同時光路調整速度個更快捷zui快15秒即可完成調整。自行研制的自動對中系統包括步進電機、精密導軌、精密控制器以及軟件系統組成，zui小步距0.2微米，保證激光束焦點始終從探測器中心點穿過，提高測試結果的準確性以及測試的重復性。自動對中系統是易仕特所有型號激光粒度儀的標準配置。

分體式設計：LAP-DW2000采用了分體式設計，光路部分更加穩定有效避免分散裝置震動帶來的影響，大大提高了儀器的測試重復性。

免排氣泡設計：全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡干擾。

樣品無殘留設計：儀器管道及排水結構進行了優化設計，儀器管道、循環泵內無積液殘留，避免對下一次測試數據的影響；干法測試同樣進行了無殘留設計。

干法計算機遠程控制喂料：LAP-DW2000干法測試時測試人員可通過電腦遠端控制喂料速度，大大減少了測試人員的勞動強度。

樣品窗快換裝置：全新設計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷。

軟件：符合藥典GMP規定，具有電子簽名、權限設置、數據追蹤、數據不可更改等功能。
于制藥行業客戶，可以提供3Q認證。
主要技術參數：